Рентгенівська флуоресценція (XRF) — це випромінювання характерного вторинного (або флуоресцентного) рентгенівського випромінювання матеріалом, збудженим високоенергетичним випромінюванням . Це явище використовується в рентгенівському флуоресцентному аналізі для визначення елементного складу металів, скла, кераміки та інших матеріалів.